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　　Mura 測試方案

　　1. 液晶缺陷

　　1) Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不緊密導致燈管光直接透射出來。 2) Zure—錯誤對位，指液晶屏的濾光單元與TFT對位出現(xiàn)錯誤導致的缺陷 3) SIMI—基板上有污漬 4) Mura—是指顯示器亮度不均勻造成各種痕跡的現(xiàn)象，最簡單的判斷方法就是在暗室中切換 到黑色畫面以及其它低灰階畫面，然后從各種不同的角度用力去看，隨著各式各樣的制 程瑕疵，液晶顯示器就有各式各樣的mura。 以上各種缺陷，Mura是最難以檢測的，因為它是光學，色度學以及人類心理學的一個結(jié)合體。

　　2. Mura定義

　　mura本來是一個日本字, 隨著日本的液晶顯示器在世界各地發(fā)揚光大, 這個字在顯示器界就變成一個全世界都可以通的文字。mura是指顯示器亮度不均勻, 造成各種痕跡的現(xiàn)象。 最簡單的判斷方法就是, 在暗室中切換到黑色畫面, 以及其他低灰階畫面. 然后從各種不同的角度用力去看, 隨著各式各樣的制程瑕疵, 液晶顯示器就有各式各樣的mura. 可能是橫向條紋或四十五度角條紋, 可能是切得很直的方塊, 可能是某個角落出現(xiàn)一塊, 可能是花花的完全沒有規(guī)則可言, 東一塊西一塊的痕跡. 《液晶顯示器件 第2-2-4部分：手機用彩色矩陣液晶顯示模塊詳細規(guī)范》指出，云紋（Mura）應(yīng)該在6%中性密度濾光鏡遮蓋后不可見，或?qū)φ諛藴蕵颖尽? 然而，液晶面板的質(zhì)量判定大部分是采用專業(yè)訓練人員以人眼檢測，隱含人類視覺限制、訓練程度及主觀認定等因素，容易產(chǎn)生不可靠的判定結(jié)果，成為生產(chǎn)者與消費者之間的爭議，故廠商積極發(fā)展機器視覺的檢測架構(gòu)。

　　3. Mura測試與量化 SEMI針對Mura測試建立了一個標準。

　　定義：JND — Just Noticeable Difference • 公式： • Cjnd是mura 缺陷最小可覺察的對比度差異 • Sjnd為C jnd下的mura 缺陷面積。 可見，每一個Sjnd都有一個固定的Cjnd對應(yīng)。Sjnd與C jnd是遞減關(guān)系，面積越大，人眼對對比度低的mura更敏感。 上圖三個點可以說明Sjnd與C jnd的關(guān)系，箭頭所指的點兩兩灰度一樣，但面積不一樣，從而引起視覺敏感性不同。 公司產(chǎn)品WP640/690由于具有高度靈敏性，能分辨出Mura的細微的灰度差值。 下圖是一些mura通過計算后顯示出來的圖片： 得益于高精度的色度亮度測試，Westboro Photonics公司的WP640/690能精確測試出mura的位置并對其進行量化，從而實現(xiàn)Mura的自動化測試與分析。 WP640/690系列具有400萬/900萬像素伯爾貼冷卻式高靈敏度CCD，動態(tài)范圍超過100,000:1,是測試mura的先決條件。 WP640與WP690成像亮度儀自帶Photometrica軟件，為用戶提供了最具生產(chǎn)力的軟件環(huán)境，無論是簡單或者深入的分析。使用選配的腳本或者軟件開發(fā)工具包（SDK），軟件所有的結(jié)果與分析功能都可實現(xiàn)高效的自動化。